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晶圓級(jí)3D封裝工藝流程及核心市場(chǎng)應(yīng)用分析和3D封裝芯片清洗劑介紹

合明科技 ?? 2375 Tags:晶圓級(jí)3D封裝工藝3D封裝芯片清洗劑

一、晶圓級(jí)3D封裝工藝流程概述

晶圓級(jí)3D封裝(Wafer Level 3D Packaging)是在晶圓未切割前直接進(jìn)行封裝加工,再切割成獨(dú)立芯片的先進(jìn)封裝技術(shù)。其核心邏輯區(qū)別于傳統(tǒng)“先切割后封裝”,通過(guò)“晶圓級(jí)批量處理”實(shí)現(xiàn)更小尺寸、更高集成度、更低成本的優(yōu)勢(shì),是3D封裝的重要分支(另包括堆疊型、系統(tǒng)級(jí)封裝)。

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1. 核心工藝類(lèi)型及流程

晶圓級(jí)3D封裝的流程因技術(shù)路線(如扇入/扇出型、TSV、RDL)而異,以下是常見(jiàn)類(lèi)型的詳細(xì)步驟:

(1)扇入型晶圓級(jí)封裝(Fan-In WLCSP)

適用場(chǎng)景:I/O數(shù)量較少的芯片(如手機(jī)處理器、傳感器),強(qiáng)調(diào)小尺寸。
流程步驟:

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特點(diǎn):錫球位于晶圓頂部,封裝尺寸接近芯片本身(“芯片級(jí)封裝”),適合消費(fèi)電子的小型化需求。

(2)扇出型晶圓級(jí)封裝(Fan-Out WLCSP)

適用場(chǎng)景:高I/O、多芯片集成(如SiP、3D堆疊),強(qiáng)調(diào)擴(kuò)展I/O能力。
流程步驟:

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特點(diǎn):I/O引出至芯片外,支持更多I/O數(shù)量(如蘋(píng)果A12處理器用扇出型封裝實(shí)現(xiàn)高集成度),是3D堆疊和SiP的核心技術(shù)。

(3)硅通孔(TSV)晶圓級(jí)3D封裝

適用場(chǎng)景:3D堆疊(如3D DRAM、高性能計(jì)算芯片),強(qiáng)調(diào)垂直互連和高帶寬。
流程步驟

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特點(diǎn):垂直互連縮短信號(hào)傳輸路徑(比傳統(tǒng)引線鍵合短10-100倍),提高帶寬(如HBM3E帶寬達(dá)1.2TB/s),是AI和高性能計(jì)算的核心支撐技術(shù)。

(4)重新分配層(RDL)封裝

適用場(chǎng)景:芯片堆疊(如多芯片模塊MCM),強(qiáng)調(diào)I/O重新布局。
流程步驟

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特點(diǎn):通過(guò)RDL重新布局芯片焊盤(pán),支持多芯片堆疊,適合高性能芯片(如GPU、TPU)。

2. 關(guān)鍵工藝技術(shù)

晶圓級(jí)3D封裝的核心技術(shù)包括:

  • 光刻:高精度圖案轉(zhuǎn)移(分辨率可達(dá)10nm以下),用于電路、絕緣層的定義,是流程的“眼睛”。

  • 濺射/電鍍:制備金屬膜(如Ti/Cu種子層、銅引線、金層),確保導(dǎo)電性和附著力,是電氣連接的基礎(chǔ)。

  • 模塑:扇出型中用EMC固定芯片,保護(hù)內(nèi)部結(jié)構(gòu),防止外界環(huán)境(如濕度、振動(dòng))影響。

  • TSV技術(shù):深孔蝕刻、金屬填充,實(shí)現(xiàn)垂直互連,是3D堆疊的“脊梁”,決定了堆疊層數(shù)和帶寬。

  • 回流焊:將錫球與金屬層牢固結(jié)合(形成金屬間化合物IMC),確保電氣連接的可靠性。

二、核心市場(chǎng)應(yīng)用分析

晶圓級(jí)3D封裝的應(yīng)用場(chǎng)景主要圍繞高集成度、高帶寬、低功耗的需求,核心市場(chǎng)包括:

1. AI與高性能計(jì)算(HPC)

需求:AI模型(如GPT-4、PaLM)訓(xùn)練需要海量數(shù)據(jù)處理,要求存儲(chǔ)具備高帶寬、低延遲、高容量;高性能計(jì)算(如氣象模擬、量子計(jì)算)需要芯片具備高集成度、高算力。
應(yīng)用:

  • 3D DRAM:如高帶寬存儲(chǔ)器(HBM3E),通過(guò)TSV堆疊多層DRAM,帶寬可達(dá)1.2TB/s(英偉達(dá)H100 GPU采用);三星VS-CAT DRAM(電容器水平放置)計(jì)劃2030年量產(chǎn),提升存儲(chǔ)密度。

  • 高性能GPU/TPU:如英偉達(dá)H100、谷歌TPU v4,采用扇出型或TSV封裝,整合CPU、GPU、TPU,提高算力。
    案例:英偉達(dá)H100 GPU用HBM3E實(shí)現(xiàn)1.2TB/s帶寬,支持大規(guī)模AI訓(xùn)練;三星VS-CAT DRAM預(yù)計(jì)將存儲(chǔ)密度提升至傳統(tǒng)DRAM的2倍。

2. 移動(dòng)設(shè)備

需求:手機(jī)、平板等便攜設(shè)備要求小尺寸、輕重量、低功耗,同時(shí)支持高性能應(yīng)用(如游戲、拍照、5G通信)。
應(yīng)用:

  • 扇入/扇出型封裝:如蘋(píng)果A10/A12處理器用扇出型封裝,減少尺寸(比傳統(tǒng)封裝小30%),提高集成度;華為Mate 60 Pro用3D封裝技術(shù)提升芯片性能。

  • 3D堆疊芯片:如驍龍8 Gen 3用3D封裝整合CPU、GPU、NPU,提升運(yùn)算效率,延長(zhǎng)續(xù)航。
    案例:蘋(píng)果A12處理器采用扇出型封裝,尺寸僅為10mm×10mm,支持iPhone XS的高性能需求;小米14用驍龍8 Gen 3,3D封裝使芯片功耗降低20%。

3. 5G與物聯(lián)網(wǎng)(IoT)

需求:5G基站需要高速度、低延遲的射頻芯片;物聯(lián)網(wǎng)終端(如智能手表、傳感器)需要小尺寸、低功耗的SoC。
應(yīng)用:

  • 3D封裝射頻芯片:如高通驍龍X75 5G調(diào)制解調(diào)器,用3D封裝提升射頻性能(支持10Gbps下載速度)。

  • 物聯(lián)網(wǎng)SoC:如小米智能手表用3D堆疊芯片,減少尺寸(比傳統(tǒng)芯片小40%),延長(zhǎng)續(xù)航(待機(jī)時(shí)間達(dá)14天)。
    案例:高通驍龍X75用3D封裝整合射頻前端,支持5G mmWave(毫米波),提升信號(hào)強(qiáng)度;華為Watch 4用3D封裝SoC,功耗降低30%。

4. 存算一體

需求:傳統(tǒng)“計(jì)算-存儲(chǔ)分離”架構(gòu)存在數(shù)據(jù)傳輸延遲(“馮·諾依曼瓶頸”),存算一體需要將計(jì)算單元與存儲(chǔ)單元緊密結(jié)合,提高效率。
應(yīng)用:

  • 存內(nèi)處理(PIM):如紫光國(guó)芯W(wǎng)OW 3D堆疊DRAM,采用混合鍵合技術(shù),帶寬達(dá)8656GB/s,功耗僅為傳統(tǒng)HBM的12%,適合AI推理。

  • 存內(nèi)計(jì)算(CIM):如IBM TrueNorth芯片,用3D封裝實(shí)現(xiàn)存算融合,能效比傳統(tǒng)芯片高100倍。
    案例:紫光國(guó)芯W(wǎng)OW 3D DRAM用于邊緣計(jì)算服務(wù)器,數(shù)據(jù)處理速度提升5倍;IBM TrueNorth芯片用于智能監(jiān)控,功耗僅為傳統(tǒng)芯片的1/100。

5. 汽車(chē)電子

需求:自動(dòng)駕駛、車(chē)機(jī)系統(tǒng)需要高可靠性、高集成度、低功耗的芯片,支持實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)處理(如激光雷達(dá)、攝像頭)。
應(yīng)用:

  • 汽車(chē)SoC:如特斯拉FSD HW 3.0,用3D封裝整合CPU、GPU、TPU,提高計(jì)算性能(支持每秒144萬(wàn)億次運(yùn)算)。

  • ADAS芯片:如英偉達(dá)Orin,用3D封裝提升能效(功耗僅為傳統(tǒng)芯片的1/2),支持L4級(jí)自動(dòng)駕駛。
    案例:特斯拉FSD HW 3.0用3D封裝實(shí)現(xiàn)高算力,支持自動(dòng)駕駛的實(shí)時(shí)決策;英偉達(dá)Orin用于蔚來(lái)ES8,功耗降低50%,續(xù)航提升10%。

三、總結(jié)與趨勢(shì)

晶圓級(jí)3D封裝是AI時(shí)代的核心封裝技術(shù),其工藝流程圍繞“晶圓級(jí)批量處理”和“3D堆疊”展開(kāi),關(guān)鍵技術(shù)包括TSV、RDL、扇出型封裝等。核心市場(chǎng)應(yīng)用集中在AI與高性能計(jì)算、移動(dòng)設(shè)備、5G與物聯(lián)網(wǎng)、存算一體、汽車(chē)電子等領(lǐng)域,這些領(lǐng)域的需求(如高帶寬、小尺寸、低功耗)推動(dòng)了晶圓級(jí)3D封裝的快速發(fā)展。

未來(lái)趨勢(shì):

  • 更高堆疊層數(shù):如3D DRAM堆疊層數(shù)從8層提升至16層,提高存儲(chǔ)密度。

  • 更小間距:如微凸點(diǎn)間距從50μm縮小至20μm,提高集成度。

  • 新型材料:如柔性封裝材料、納米材料,提升封裝可靠性和性能。

  • 產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同:晶圓廠、封裝廠、設(shè)備商(如ASML、臺(tái)積電)加強(qiáng)合作,降低成本,推動(dòng)普及。

晶圓級(jí)3D封裝芯片清洗劑選擇:

水基清洗的工藝和設(shè)備配置選擇對(duì)清洗精密器件尤其重要,一旦選定,就會(huì)作為一個(gè)長(zhǎng)期的使用和運(yùn)行方式。水基清洗劑必須滿足清洗、漂洗、干燥的全工藝流程。

污染物有多種,可歸納為離子型和非離子型兩大類(lèi)。離子型污染物接觸到環(huán)境中的濕氣,通電后發(fā)生電化學(xué)遷移,形成樹(shù)枝狀結(jié)構(gòu)體,造成低電阻通路,破壞了電路板功能。非離子型污染物可穿透PC B 的絕緣層,在PCB板表層下生長(zhǎng)枝晶。除了離子型和非離子型污染物,還有粒狀污染物,例如焊料球、焊料槽內(nèi)的浮點(diǎn)、灰塵、塵埃等,這些污染物會(huì)導(dǎo)致焊點(diǎn)質(zhì)量降低、焊接時(shí)焊點(diǎn)拉尖、產(chǎn)生氣孔、短路等等多種不良現(xiàn)象。

這么多污染物,到底哪些才是最備受關(guān)注的呢?助焊劑或錫膏普遍應(yīng)用于回流焊和波峰焊工藝中,它們主要由溶劑、潤(rùn)濕劑、樹(shù)脂、緩蝕劑和活化劑等多種成分,焊后必然存在熱改性生成物,這些物質(zhì)在所有污染物中的占據(jù)主導(dǎo),從產(chǎn)品失效情況來(lái)而言,焊后殘余物是影響產(chǎn)品質(zhì)量最主要的影響因素,離子型殘留物易引起電遷移使絕緣電阻下降,松香樹(shù)脂殘留物易吸附灰塵或雜質(zhì)引發(fā)接觸電阻增大,嚴(yán)重者導(dǎo)致開(kāi)路失效,因此焊后必須進(jìn)行嚴(yán)格的清洗,才能保障電路板的質(zhì)量。

合明科技研發(fā)的水基清洗劑配合合適的清洗工藝能為芯片封裝前提供潔凈的界面條件。

合明科技運(yùn)用自身原創(chuàng)的產(chǎn)品技術(shù),滿足芯片封裝工藝制程清洗的高難度技術(shù)要求,打破國(guó)外廠商在行業(yè)中的壟斷地位,為芯片封裝材料全面國(guó)產(chǎn)自主提供強(qiáng)有力的支持。

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