因為專業(yè)
所以領(lǐng)先
CMOS攝像頭是使用互補金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)技術(shù)來捕獲圖像的電子設(shè)備,其芯片是圖像傳感器的核心部分,負(fù)責(zé)將光學(xué)圖像轉(zhuǎn)換為電子信號。CMOS攝像頭芯片封裝指的是將芯片實體與外界環(huán)境隔離的方式,包括引腳的布局、尺寸和材料等。封裝的類型和質(zhì)量對芯片的性能、散熱和穩(wěn)定性有著直接的影響2。

在封裝工藝開始之前,需要對晶圓進(jìn)行清洗和預(yù)處理,去除表面的雜質(zhì)和污染物,確保晶圓表面的平整度和清潔度。這一步驟對于后續(xù)工藝的順利進(jìn)行至關(guān)重要1。
將經(jīng)過測試的晶圓切割成單個芯片。首先,對晶圓背面進(jìn)行研磨,使其厚度達(dá)到封裝工藝的要求。隨后,沿著晶圓上的劃片線進(jìn)行切割,分離出單個芯片。切割技術(shù)包括刀片切割、激光切割和等離子切割,其中激光切割和等離子切割適用于高精度和小間距的晶圓1。
切割后的單個芯片需要附著到基底(如引線框架或封裝基板)上。基底的作用是支撐芯片并實現(xiàn)與外部電路的電氣連接。附著過程通常使用液體或固體帶狀粘合劑1。
實現(xiàn)芯片與基底之間電氣連接的關(guān)鍵步驟。常見的互連方法包括引線鍵合和倒裝芯片鍵合:
引線鍵合:通過細(xì)金屬線(如金線)將芯片的電極與基底引腳連接。
倒裝芯片鍵合:將芯片正面朝下直接與基底焊盤連接,這種方式可以縮短電氣連接路徑,提高信號傳輸速度1。
目的是為芯片提供物理保護(hù),同時形成與外部電路的連接接口。通常使用封裝材料(如塑料、陶瓷或金屬)將芯片包裹起來。例如,塑料封裝通過注塑成型工藝將芯片和基板固定在塑料外殼中,保護(hù)芯片免受外界環(huán)境的影響1。
封裝完成后,芯片需要進(jìn)行最終的測試,以確保其性能和可靠性。測試內(nèi)容包括電氣性能測試、功能測試和環(huán)境適應(yīng)性測試(如溫度、濕度等)1。
常見的CMOS攝像頭芯片封裝類型有QFN(四面扁平無引腳封裝)、BGA(球柵陣列封裝)、LGA(引腳柵格陣列封裝)等,不同的封裝類型在引腳布局、尺寸和材料等方面存在差異,對芯片的性能、散熱和穩(wěn)定性有著不同的影響2。
隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步,先進(jìn)封裝技術(shù)如晶圓級封裝和3D封裝正在推動封裝工藝向更高性能、更小尺寸和更低功耗的方向發(fā)展。晶圓級封裝可分為扇入型晶圓級芯片封裝(Fan - In WLCSP)、扇出型晶圓級芯片封裝(Fan - Out WLCSP)等,這些技術(shù)有助于提升芯片的性能和可靠性,滿足現(xiàn)代電子產(chǎn)品對小型化和高性能的需求1。

水基清洗的工藝和設(shè)備配置選擇對清洗精密器件尤其重要,一旦選定,就會作為一個長期的使用和運行方式。水基清洗劑必須滿足清洗、漂洗、干燥的全工藝流程。
污染物有多種,可歸納為離子型和非離子型兩大類。離子型污染物接觸到環(huán)境中的濕氣,通電后發(fā)生電化學(xué)遷移,形成樹枝狀結(jié)構(gòu)體,造成低電阻通路,破壞了電路板功能。非離子型污染物可穿透PC B 的絕緣層,在PCB板表層下生長枝晶。除了離子型和非離子型污染物,還有粒狀污染物,例如焊料球、焊料槽內(nèi)的浮點、灰塵、塵埃等,這些污染物會導(dǎo)致焊點質(zhì)量降低、焊接時焊點拉尖、產(chǎn)生氣孔、短路等等多種不良現(xiàn)象。
這么多污染物,到底哪些才是最備受關(guān)注的呢?助焊劑或錫膏普遍應(yīng)用于回流焊和波峰焊工藝中,它們主要由溶劑、潤濕劑、樹脂、緩蝕劑和活化劑等多種成分,焊后必然存在熱改性生成物,這些物質(zhì)在所有污染物中的占據(jù)主導(dǎo),從產(chǎn)品失效情況來而言,焊后殘余物是影響產(chǎn)品質(zhì)量最主要的影響因素,離子型殘留物易引起電遷移使絕緣電阻下降,松香樹脂殘留物易吸附灰塵或雜質(zhì)引發(fā)接觸電阻增大,嚴(yán)重者導(dǎo)致開路失效,因此焊后必須進(jìn)行嚴(yán)格的清洗,才能保障電路板的質(zhì)量。
合明科技研發(fā)的水基清洗劑配合合適的清洗工藝能為芯片封裝前提供潔凈的界面條件。
合明科技運用自身原創(chuàng)的產(chǎn)品技術(shù),滿足芯片封裝工藝制程清洗的高難度技術(shù)要求,打破國外廠商在行業(yè)中的壟斷地位,為芯片封裝材料全面國產(chǎn)自主提供強(qiáng)有力的支持。
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